LIFETIMES OF THIN-FILMS IN ION-BEAM EXPERIMENTS

被引：4

作者：

RAMSAY, D

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1979年 / 167卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(79)90474-9

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页数：4

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