NOISE MEASUREMENTS OF SILICON PLANAR MICROWAVE TRANSISTORS IN FREQUENCY RANGE 4-8 GHZ

被引：1

作者：

KOTYCZKA, W

STRUTT, MJO

机构：

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1970年 / 6卷 / 15期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19700335

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：478 / &

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共 3 条

[1] NOISE-PARAMETER MEASUREMENTS OF MICROWAVE TRANSISTORS UP TO 2 4GHZ
BACHTOLD, W
STRUTT, MJO
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