A VARIANCE ANALYSIS OF BROADENED X-RAY DIFFRACTION LINES FROM EVAPORATED THIN FILMS OF ALUMINIUM

被引：13

作者：

GRIMES, NW

PEARSON, JM

FANE, RW

NEAL, WEJ

机构：

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1970年 / 21卷 / 169期

关键词：

D O I：

10.1080/14786437008238405

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：177 / &

共 22 条

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