NEW METHOD OF MEASURING LOW VALUES OF DIELECTRIC LOSS IN THE NEAR MILLIMETER WAVELENGTH REGION USING UNTUNED CAVITIES

被引:14
作者
LLEWELLYNJONES, DT
KNIGHT, RJ
MOFFAT, PH
GEBBIE, HA
机构
[1] SRC,APPLETON LAB,SLOUGH SL3 9JX,BERKSHIRE,ENGLAND
[2] UNIV LONDON IMPERIAL COLL SCI & TECHNOL,DEPT ELECT ENGN,LONDON SW7 2BT,ENGLAND
来源
IEE PROCEEDINGS-A-SCIENCE MEASUREMENT AND TECHNOLOGY | 1980年 / 127卷 / 08期
关键词
D O I
10.1049/ip-a-1.1980.0078
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:535 / 540
页数:6
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