AN EMISSOMETER WITH HIGH-ACCURACY FOR DETERMINATION OF THE TOTAL HEMISPHERICAL EMITTANCE OF SURFACES

被引：19

作者：

BEENS, WW

SIKKENS, M

VERSTER, JL

机构：

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1980年 / 13卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/13/8/018

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：873 / 876

页数：4

共 6 条

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