DIRECT OBSERVATION OF VOIDS IN DOPED TUNGSTEN BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

被引：7

作者：

DAS, G

机构：

来源：

METALLURGICAL TRANSACTIONS | 1971年 / 2卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02814987

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

页码：3239 / &

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