PATTERN COMPARISON BY INTERFERENCE FRINGE SCANNING

被引：2

作者：

TSURUTA, T ^{[1
]}

ITOH, Y ^{[1
]}

SHIRASU, H ^{[1
]}

机构：

[1] NIPPON KOGAKU KK,RES LAB,1-6-3 NISHIOI,SHINAGAWAKU 140,TOKYO,JAPAN

来源：

APPLIED OPTICS | 1974年 / 13卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.13.001089

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1089 / 1092

页数：4