LOW-BACKGROUND TUNGSTEN FILAMENTS FOR SURFACE IONIZATION MASS SPECTROSCOPY

被引：10

作者：

FRAZER, JW

BURNS, RP

BARTON, GW

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1959年 / 30卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1716628

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：370 / 371

页数：2

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共 1 条

[1] SURFACE IONIZATION SOURCE USING MULTIPLE FILAMENTS [J].

INGHRAM, MG ;

CHUPKA, WA .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1953, 24 (07) :518-520