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NONOHMIC CONTACTS FOR MICROWAVE DEVICES
被引:5
作者
:
IRVIN, JC
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0
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0
IRVIN, JC
PRITCHETT, RL
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PRITCHETT, RL
机构
:
来源
:
PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS
|
1970年
/ 58卷
/ 11期
关键词
:
D O I
:
10.1109/PROC.1970.8030
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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共 2 条
[1]
DECKER DR, TO BE PUBLISHED
[2]
NEW MICROWAVE MEASUREMENT TECHNIQUE TO CHARACTR AT ZERO VOLTS BIAS
[J].
DELOACH, BC
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0
引用数:
0
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DELOACH, BC
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1964,
MT12
(01)
:15
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[1]
DECKER DR, TO BE PUBLISHED
[2]
NEW MICROWAVE MEASUREMENT TECHNIQUE TO CHARACTR AT ZERO VOLTS BIAS
[J].
DELOACH, BC
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0
DELOACH, BC
.
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,
1964,
MT12
(01)
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