THYRISTOR HIGH-FREQUENCY RATINGS BY CONCURRENT TESTING AND COMPUTER SIMULATION

被引：3

作者：

BALENOVICH, JD ^{[1
]}

GILLOTT, DM ^{[1
]}

MOTTO, JW ^{[1
]}

机构：

[1] WESTINGHOUSE ELECT CORP, SEMICONDUCTOR DIV, YOUNGWOOD, PA 15697 USA

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS AND CONTROL INSTRUMENTATION | 1973年 / IA 9卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TIA.1973.349957

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：227 / 235

页数：9