HIGH-RESOLUTION COLD STAGE FOR THE JEOL 100B AND 100C ELECTRON-MICROSCOPES

被引:34
作者
HAYWARD, SB
GLAESER, RM
机构
[1] UNIV CALIF BERKELEY,DONNER LAB,BERKELEY,CA 94720
[2] UNIV CALIF BERKELEY,DEPT BIOPHYS & MED PHYS,BERKELEY,CA 94720
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(80)90005-4
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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