RECENT ADVANCES WITH HGI2 X-RAY DETECTORS

被引：54

作者：

SWIERKOW.SP ^{[1
]}

ARMANTRO.GA ^{[1
]}

WICHNER, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF,LAWRENCE LIVERMORE LAB,LIVERMORE,CA 94550

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1974年 / NS21卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1974.4327475

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：302 / 304

页数：3

相关论文

共 4 条

[1] Bertolini G, 1968, SEMICONDUCTOR DETECT
[2] MALM HL, 1972, IEEE NUCL S, VNS19, P263
[3] MALM HL, 1973, IEEE T NUCL SCI, VNS20, P500
[4] HIGH-RESOLUTION HGL2 X-RAY SPECTROMETERS
SWIERKOWSKI, SP
ARMANTROUT, GA
WICHNER, R
[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1973, 23 (05) : 281 - 282