TRANSCONDUCTANCE DEPENDENCE ON GATE LENGTH FOR GAAS GATE SISFETS

被引：1

作者：

CHEN, M ^{[1
]}

SCHAFF, WJ ^{[1
]}

TASKER, PJ ^{[1
]}

EASTMAN, LF ^{[1
]}

机构：

[1] CORNELL UNIV,NATL RES & RESOURCE FAC SUBMICRON STRUCT,ITHACA,NY 14853

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19870567

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：2