MEASUREMENT OF INTERNAL TEMPERATURE RISE OF TRANSISTORS

被引：3

作者：

NELSON, JT

IWERSEN, JE

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS | 1958年 / 46卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/JRPROC.1958.286904

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1207 / 1208

页数：2

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共 4 条

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