ELECTRICAL OVERSTRESS FAILURE MODELING FOR BIPOLAR SEMICONDUCTOR COMPONENTS

被引：10

作者：

ALEXANDER, DR

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS HYBRIDS AND MANUFACTURING TECHNOLOGY | 1978年 / 1卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/TCHMT.1978.1135310

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：345 / 353

页数：9

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共 11 条

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