SYNTHESIS OF HOLOGRAPHY AND SPECKLE PHOTOGRAPHY TO MEASURE 3-D DISPLACEMENTS

被引：14

作者：

ADAMS, FD ^{[1
]}

MADDUX, GE ^{[1
]}

机构：

[1] USAF,FLIGHT DYNAM LAB,STRUCT DIV,WRIGHT PATTERSON AFB,OH 45433

来源：

APPLIED OPTICS | 1974年 / 13卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.13.000219

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：219 / 219

页数：1

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[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1965, 7 (09) : 248 - +
[4] POWELL RL, 1965, J OPT SOC AM, V55, P1953