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THE FOCUSING OF GEV PARTICLES WITH ELECTROSTATIC COAXIAL LENSES
被引:7
作者
:
KREJCIK, P
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0
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0
KREJCIK, P
机构
:
来源
:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS
|
1980年
/ 171卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0029-554X(80)90495-4
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页数:4
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[1]
NEW ELECTROSTATIC ION MICROPROBE SYSTEM
KREJCIK, P
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KELLY, JC
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KELLY, JC
DALGLISH, RL
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DALGLISH, RL
[J].
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS,
1980,
168
(1-3):
: 247
-
249
[2]
KREJCIK P, 1979, J PHYS D APPL PHYS, V12, P161, DOI 10.1088/0022-3727/12/2/003
[3]
KREJCIK P, 1979, 4TH P INT C ION BEAM
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