INTERPRETATION OF CAPACITANCE VS VOLTAGE MEASUREMENTS OF P-N-JUNCTIONS

被引：20

作者：

CARTER, WE

CHAWLA, BR

GUMMEL, HK

机构：

来源：

SOLID-STATE ELECTRONICS | 1972年 / 15卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(72)90053-6

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：195 / &

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