SOME QUANTITATIVE MEASUREMENTS OF PATH DIFFERENCES AND GRADIENTS BY MEANS OF PHASE CONTRAST AND NEW INTERFEROMETRIC DEVICES

被引:22
作者
INGELSTAM, E
机构
关键词
D O I
10.1364/JOSA.47.000536
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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