RETROREFLECTANCE MEASUREMENTS OF PHOTOMETRIC STANDARDS AND COATINGS .2.

被引：8

作者：

EGAN, WG ^{[1
]}

HILGEMAN, T ^{[1
]}

机构：

[1] GRUMMAN AEROSP CORP,DEPT RES,BETHPAGE,NY 11714

来源：

APPLIED OPTICS | 1977年 / 16卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.16.002861

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：2861 / 2864

页数：4

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共 3 条

[1] RETROREFLECTANCE MEASUREMENTS OF PHOTOMETRIC STANDARDS AND COATINGS [J].

EGAN, WG ;

HILGEMAN, T .

APPLIED OPTICS, 1976, 15 (07) :1845-1849

[2] COHERENCE-POLARIZATION PHENOMENA IN REMOTE SENSING [J].

EGAN, WG ;

HALLOCK, HB .

PROCEEDINGS OF THE IEEE, 1969, 57 (04) :621-&

[3]

Van de Hulst H. C., 1957, LIGHT SCATTERING SMA