ROLES OF INTERFACIAL ROUGHNESS AND STRUCTURAL INHOMOGENEITY IN LIGHT-SCATTERING FROM A THIN-FILM

被引：5

作者：

CROCE, P ^{[1
]}

PRODHOMME, L ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV PARIS 11,CNRS,INST OPT,LAB 503,F-91406 ORSAY,FRANCE

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1977年 / 12卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0197700120100164100

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1641 / 1648

页数：8

共 9 条

CROCE, P ;

PRODHOMME, L .

NOUVELLE REVUE D OPTIQUE, 1976, 7 (02) :121-132

CROCE, P ;

NEVOT, L .

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE, 1976, 11 (01) :113-125

[3]

CROCE P, 1977, NUOVO REV OPT, V8, P127

[4]

GIACOMO P, 1956, REV OPT, V35, P442

[5]

GUNTHER KH, 1976, THIN SOLID FILMS, V34, P363

[6] SCATTERING OF ELECTROMAGNETIC WAVES FROM A ROUGH SURFACE [J].

JURANEK, HJ .

ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1970, 233 (04) :324-&

[7]

KOPPELMANN G, 1960, OPTIK, V17, P416

[8]

NEVOT L, 1977, THESIS ORSAY

[9] ELECTRON MICROSCOPY OF MULTILAYER THIN FILMS [J].

PEARSON, JM .