OBSERVATION OF CRYSTAL DEFECTS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

被引：33

作者：

CLARKE, DR

机构：

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1971年 / 24卷 / 190期

关键词：

D O I：

10.1080/14786437108217061

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：973 / &

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共 3 条

[1]

BOOKER GR, 1970, MODERN DIFFRACTION I

[2] CALCULATIONS OF LATTICE DEFECT IMAGES FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY [J].

CLARKE, DR ;

HOWIE, A .

PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 1971, 24 (190) :959-&

[3]

Crewe A. V., 1970, Optik, V30, P461