COAXIAL CHAMBER FOR MEASUREMENT OF FREQUENCY-DEPENDENT CONDUCTIVITY IN POWDERED SEMICONDUCTORS

被引：7

作者：

SNOWDEN, DP

SALTSBURG, H

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1963年 / 34卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1718200

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：1263 / &

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共 2 条

[1]

HIPPLE AV, 1954, DIELECTRIC MATERIALS, P68

[2]

SNOWDEN DP, TO BE PUBLISHED