COSMIC-RAY-INDUCED ERRORS IN MOS DEVICES

被引：102

作者：

PICKEL, JC

BLANDFORD, JT

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1980.4330967

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1006 / 1015

页数：10

共 10 条

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