SINGLE SIDEBAND RONCHI TEST

被引:18
作者
SCHWIDER, J
机构
来源
APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 15期
关键词
D O I
10.1364/AO.20.002635
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
收藏
页码:2635 / 2642
页数:8
相关论文
共 18 条
[1]  
BARAKAT R, 1969, J OPT SOC AM, V59, P32
[2]  
Born M., 1964, PRINCIPLES OPTICS
[3]  
Briers J. D., 1969, OPT TECHNOL, V1, P196
[4]  
BRYNGDAHL O, 1968, J OPT SOC AM, V58, P1
[5]  
Cornejo A., 1978, Boletin del Instituto de Tonantzintla, V2, P313
[6]  
Goodman J. W, 2005, INTRO FOURIER OPTICS
[7]   MATRIX FORMULATION OF THE RECONSTRUCTION OF PHASE VALUES FROM PHASE DIFFERENCES [J].
HUNT, BR .
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, 1979, 69 (03) :393-399
[8]  
Lohmann A. W., 1971, Optics Communications, V2, P413, DOI 10.1016/0030-4018(71)90055-1
[9]  
Malacara D., 1974, Boletin del Instituto de Tonantzintla, V1, P193
[10]  
MALACARA D, 1971, APPL OPTICS, V10, P679