NEW METHOD TO DETERMINE FAILURE FREQUENCY OF A COMPLEX SYSTEM

被引：8

作者：

SINGH, C ^{[1
]}

BILLINTO.R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SASKATCHEWAN,POWER SYST RES GRP,SASKATCHEWAN,SASKATOON,CANADA

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1973年 / 12卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(73)90120-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：7