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PROPERTIES OF GAS SCINTILLATION PROPORTIONAL-COUNTERS FOR SOFT X-RAYS
被引:45
作者
:
INOUE, H
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机构:
OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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INOUE, H
[
1
]
TANAKA, Y
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OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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TANAKA, Y
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TSUNEMI, H
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OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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TSUNEMI, H
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]
MATSUOKA, M
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OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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MATSUOKA, M
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OHASHI, T
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OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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OHASHI, T
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KOYAMA, K
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OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
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KOYAMA, K
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1
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机构
:
[1]
OSAKA UNIV,DEPT PHYS,OSAKA,JAPAN
来源
:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS
|
1978年
/ 157卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0029-554X(78)90304-X
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页数:6
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共 3 条
[1]
Dutton J., 1975, Journal of Physical and Chemical Reference Data, V4, P577, DOI 10.1063/1.555525
[2]
Henke B.L., 1974, ADV XRAY ANALYSIS, V17, P150
[3]
Policarpo A. J. P. L., 1977, Space Science Instrumentation, V3, P77
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共 3 条
[1]
Dutton J., 1975, Journal of Physical and Chemical Reference Data, V4, P577, DOI 10.1063/1.555525
[2]
Henke B.L., 1974, ADV XRAY ANALYSIS, V17, P150
[3]
Policarpo A. J. P. L., 1977, Space Science Instrumentation, V3, P77
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