MATERIAL MEASUREMENT SCHEMES FOR FAR INFRARED

被引：4

作者：

BLOCK, W

KEUNE, D

SIEVERIN.H

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1968年 / 7卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.7.002319

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2319 / &

共 7 条

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