DOPING INHOMOGENEITIES IN SEMICONDUCTORS MEASURED BY ELECTROREFLECTANCE

被引：13

作者：

SITTIG, R ^{[1
]}

机构：

[1] BROWN BOVERI CO LTD,RES CTR,CH5401 BADEN,SWITZERLAND

来源：

SURFACE SCIENCE | 1973年 / 37卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(73)90384-1

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

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页码：987 / 993

页数：7

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共 2 条

[1] ASPNES DE, 1972, PHYS REV LETTERS, V28, P93
[2] SITTIG R, 1972, PHYS STAT SOL A, V2, P663