DETERMINATION OF INTERFERENCE PATTERNS FROM LASER PRODUCED SCHLIEREN INTERFEROMETRY

被引：3

作者：

PENNER, SS

DAVIDOR, W

BIEN, F

机构：

来源：

AMERICAN JOURNAL OF PHYSICS | 1970年 / 38卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1119/1.1976151

中图分类号：

G40 [教育学];

学科分类号：

040101 ; 120403 ;

摘要：

引用

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页码：1413 / &

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共 3 条

[1]

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F4462068C0010 CONTR