BERYLLIUM SINGLE CRYSTAL FLAKES AS SUBSTRATES FOR HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY

被引：7

作者：

KOMODA, T

NISHIDA, I

KIMOTO, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.8.1164

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1164 / &

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共 3 条

[1]

Fukami A, 1965, J Electron Microsc (Tokyo), V14, P112

KIMOTO, K ;

NISHIDA, I .

[3]

Kimoto K., 1963, J APPL PHYS, V2, P702, DOI [10.1143/JJAP.2.702, DOI 10.1143/JJAP.2.702]