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SCANNED-PROBE MICROSCOPES
被引:57
作者
:
WICKRAMASINGHE, HK
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0
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0
WICKRAMASINGHE, HK
机构
:
来源
:
SCIENTIFIC AMERICAN
|
1989年
/ 261卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1038/scientificamerican1089-98
中图分类号
:
O [数理科学和化学];
P [天文学、地球科学];
Q [生物科学];
N [自然科学总论];
学科分类号
:
07 ;
0710 ;
09 ;
摘要
:
引用
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页数:8
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SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY - APPLICATION TO BIOLOGY AND TECHNOLOGY
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机构:
PURDUE UNIV,DEPT BOT & PLANT PATHOL,W LAFAYETTE,IN 47907
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HANSMA, PK
;
ELINGS, VB
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PURDUE UNIV,DEPT BOT & PLANT PATHOL,W LAFAYETTE,IN 47907
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;
MARTI, O
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;
BRACKER, CE
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.
SCIENCE,
1988,
242
(4876)
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MARTIN Y, 1988, SCANNING MICROSCOPY, V2, P3
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机构:
STANFORD UNIV,DEPT ELECT ENGN,STANFORD,CA 94305
QUATE, CF
.
PHYSICS TODAY,
1986,
39
(08)
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[1]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY - APPLICATION TO BIOLOGY AND TECHNOLOGY
[J].
HANSMA, PK
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PURDUE UNIV,DEPT BOT & PLANT PATHOL,W LAFAYETTE,IN 47907
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;
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.
SCIENCE,
1988,
242
(4876)
:209
-216
[2]
MARTIN Y, 1988, SCANNING MICROSCOPY, V2, P3
[3]
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[J].
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.
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1986,
39
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:26
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