MULTIFREQUENCY MEASUREMENT OF TESTABILITY WITH APPLICATION TO LARGE LINEAR ANALOG SYSTEMS

被引：15

作者：

IUCULANO, G

LIBERATORE, A

MANETTI, S

MARINI, M

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1986年 / 33卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1986.1085956

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：644 / 648

页数：5

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共 7 条

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