共 2 条
[1]
HUTSON AR, COMMUNICATION
[2]
SKANAVI GI, 1957, SOVIET PHYS TECH PHY, V1, P882
APPARATUS FOR MEASUREMENT OF THERMAL EMF IN SEMICONDUCTORS
被引：6
作者：
BRICE, JC
WRIGHT, HC
机构：
来源：
JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1958年
/
35卷
/
04期
关键词：
D O I：
10.1088/0950-7671/35/4/410
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
引用
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页数：2
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