USE OF X-RAY EMISSION SPECTROSCOPY IN CHARACTERIZATION OF THIN FILMS OF ALUMINUM OXIDES AND HYDROXIDES

被引：4

作者：

WHITE, EW

ROY, R

机构：

来源：

MATERIALS RESEARCH BULLETIN | 1967年 / 2卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0025-5408(67)90022-0

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：395 / &

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共 5 条

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