PROPAGATION MEASUREMENTS IN EXTREMELY LOW-FREQUENCY (ELF) BAND

被引：14

作者：

WHITE, DP ^{[1
]}

WILLIM, DK ^{[1
]}

机构：

[1] MIT,LINCOLN LAB,LEXINGTON,MA 02173

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TCOM.1974.1092221

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：457 / 467

页数：11

共 15 条

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