OPTIMIZING THIN-FILM X-RAY-SPECTRA FOR QUANTITATIVE-ANALYSIS

被引:60
作者
NICHOLSON, WAP
GRAY, CC
CHAPMAN, JN
ROBERTSON, BW
机构
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1982年 / 125卷 / JAN期
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1982.tb00320.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页数:16
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