ANOMALOUS BORON PROFILES PRODUCED BY BF2 IMPLANTATION INTO SILICON

被引:18
作者
SIGMON, TW
DELINE, VR
EVANS, CA
KATZ, WM
机构
[1] UNIV ILLINOIS,DEPT CHEM,URBANA,IL 61801
[2] UNIV ILLINOIS,MAT RES CTR,URBANA,IL 61801
[3] CHARLES EVANS & ASSOCIATES,SAN MATEO,CA 94402
关键词
D O I
10.1149/1.2129801
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
引用
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页数:2
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共 2 条
  • [1] GIBBONS JF, 1975, PROJECTED RANGE STAT
  • [2] MULLER H, 1971, ION IMPLANTATION SEM, P85