SIMPLE ANALYTICAL METHODS FOR DETERMINING OPTICAL-CONSTANTS OF THIN-FILMS - THEIR APPLICATION TO AMORPHOUS-SILICON

被引：9

作者：

SAKATA, I

HAYASHI, Y

机构：

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1981年 / 20卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.20.675

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：675 / 676

页数：2

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共 3 条

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