METHOD OF MEASURING SPHERICAL ABERRATION OF AN ELECTRON MICROSCOPE OBJECTIVE

被引：8

作者：

HALL, CE

机构：

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1949年 / 20卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1698442

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：631 / 632

页数：2

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共 3 条

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