学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
IOTA, A NEW COMPUTER CONTROLLED THIN-FILM THICKNESS MEASUREMENT TOOL
被引:27
作者
:
KONNERTH, KL
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KONNERTH, KL
机构
:
来源
:
SOLID-STATE ELECTRONICS
|
1972年
/ 15卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0038-1101(72)90107-4
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:371 / &
相关论文
共 4 条
[1]
NONDESTRUCTIVE DETERMINATION OF THICKNESS + REFRACTIVE INDEX OF TRANSPARENT FILMS
PLISKIN, WA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
PLISKIN, WA
CONRAD, EE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CONRAD, EE
[J].
IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT,
1964,
8
(01)
: 43
-
&
[2]
PLISKIN WA, 1969, PROGR ANAL CHEM, V2, P1
[3]
PUGH EM, 1966, ANALYSIS PHYSICAL ME, P6
[4]
REIZMANN T, 1967, SOLID STATE ELECTRON, V10, P625
←
1
→
共 4 条
[1]
NONDESTRUCTIVE DETERMINATION OF THICKNESS + REFRACTIVE INDEX OF TRANSPARENT FILMS
PLISKIN, WA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
PLISKIN, WA
CONRAD, EE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CONRAD, EE
[J].
IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT,
1964,
8
(01)
: 43
-
&
[2]
PLISKIN WA, 1969, PROGR ANAL CHEM, V2, P1
[3]
PUGH EM, 1966, ANALYSIS PHYSICAL ME, P6
[4]
REIZMANN T, 1967, SOLID STATE ELECTRON, V10, P625
←
1
→