OUTLINE OF A METHOD FOR CORRECTING FOR ATOMIC NUMBER EFFECTS IN ELECTRON PROBE MICROANALYSIS

被引:30
作者
THOMAS, PM
机构
来源
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1963年 / 14卷 / 06期
关键词
D O I
10.1088/0508-3443/14/6/129
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:397 / &
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[1]  
ARCHARD GD, 1962, 3 P INT S XRAY OPT X
[2]  
Brand JO, 1936, ANN PHYS-BERLIN, V26, P609
[3]  
Castaing R., 1951, THESIS U PARIS
[4]  
Castaing R, 1960, ADV ELECTRONICS ELEC, V13, P317, DOI [DOI 10.1016/S0065-2539(08)60212-7, 10.1016/S0065-2539(08)60212-7]
[5]  
GREEN M, 1962, 3 P INT S XRAY OPT X
[6]  
NELMS AT, 1956, 577 NAT BUR STAND CI
[7]  
NELMS AT, 1958, 577 US NAT BUR STA S
[8]  
PHILIBERT J, 1962, 3 P INT S XRAY OPT X
[9]  
POOLE DM, 1962, J I MET, V90, P228