A DOUBLE-SLIT INTERFEROMETER FOR THE DETERMINATION OF THE THICKNESS OF THE REFERENCE SYSTEM USED IN X-RAY MICRORADIOGRAPHY

被引：6

作者：

DJURLE, E

HALLEN, O

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0014-4827(53)90214-6

中图分类号：

R73 [肿瘤学];

学科分类号：

100214 ;

摘要：

引用

页码：301 / 310

页数：10

相关论文

共 5 条

[1] X-RAY MICRORADIOGRAPHY AS A QUANTITATIVE METHOD [J].

BRATTGARD, SO ;

HALLEN, O .

[2]

BRATTGARD SO, 1952, ACTA RADIOL S, V94

HALLEN, O ;

INGELSTAM, E .

[4]

Jenkins FA, 1951, FUNDAMENTALS OPTICS

[5]

VALASEK J, 1949, INTRO THEORETICAL EX