COLLIMATED BEAM SCANNING OF PURE GERMANIUM DETECTORS

被引：4

作者：

BAERTSCH, RD ^{[1
]}

机构：

[1] GE,CORP RES & DEV,SCHENECTADY,NY 12301

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1973年 / NS20卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1973.4326952

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：488 / 493

页数：6

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共 3 条

[1]

SAKAI E, 1971, IEEE T NUCL SCI, VNS18, P208

[2]

SAKAI E, 1971, IEEE T NUCLEAR SCIEN, VNS18, P228

[3] USE OF COLLIMATED GAMMA-RAY BEAMS IN STUDY OF GE(LI) DETECTORS [J].

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