An improved X-ray tube for diffraction analysis

被引：9

作者：

Machlett, RR ^{[1
]}

机构：

[1] Machlett Labs Inc, Springdale, CT USA

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1942年 / 13卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1714884

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：398 / 401

页数：4

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共 3 条

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