MAGNETIC-SECTOR ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPY WITH A RETARDING POTENTIAL ANALYZER

被引:11
作者
CULBERTSON, RJ
SAKURAI, T
机构
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1978年 / 15卷 / 05期
关键词
D O I
10.1116/1.569839
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:1752 / 1755
页数:4
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