SUPPLEMENTAL MEASUREMENTS IN PROBING ELECTRON IMPACT-INDUCED DECOMPOSITIONS VIA MASS SPECTRA OF LABELED COMPOUNDS

被引：27

作者：

MEYERSON, S

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1366/000370268774383769

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：30 / &

共 30 条

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