SOLID-STATE POROSITY CHARACTERIZATION - PHOTOTHERMAL APPROACH

被引：2

作者：

GULYAEV, YV

MOROZOV, AI

RAEVSKII, VY

机构：

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1989年 / 25卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19890418

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：615 / 616

页数：2

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