DETECTION OF IN-P AND IN-SB ATOM PAIRS BY PERTURBED ANGULAR-CORRELATION IN SILICON

被引：23

作者：

SWANSON, ML ^{[1
]}

WICHERT, T ^{[1
]}

QUENNEVILLE, AF ^{[1
]}

机构：

[1] ATOM ENERGY CANADA LTD,CHALK RIVER NUCL LABS,CHALK RIVER K0J 1J0,ONTARIO,CANADA

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.97136

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：265 / 267

页数：3

共 6 条

[1]

CULBERTSON RJ, UNPUB MATER RES SOC

DEICHER, M ;

MINDE, R ;

RECKNAGEL, E ;

WICHERT, T .

HYPERFINE INTERACTIONS, 1983, 15 (1-4) :437-440

[3]

Mayer J. W., 1970, ION IMPLANTATION SEM

NARAYAN, J ;

HOLLAND, OW ;

APPLETON, BR .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 1983, 1 (04) :871-887

[5]

RECKNAGEL E, 1983, TOP CURR PHYS, V31, P133

[6]

WICHERT T, UNPUB