USE OF FOCUSED ION-BEAMS FOR ANALYSIS

被引：32

作者：

COOKSON, JA ^{[1
]}

PILLING, FD ^{[1
]}

机构：

[1] ATOM ENERGY RES ESTAB,NUCL PHYS DIV,HARWELL,DIDCOT,BERKSHIRE,ENGLAND

来源：

THIN SOLID FILMS | 1973年 / 19卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(73)90074-6

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：381 / 385

页数：5

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共 5 条

[1] PROTON MICROBEAMS, THEIR PRODUCTION AND USE [J].

COOKSON, JA ;

FERGUSON, AT ;

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